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X射線測厚儀校正片

更新時間:2024-11-03

簡要描述:

X射線測厚儀校正片可應用各種X射線測厚儀品牌,用于校正測厚儀標準及添加應用程序,對于PCB、電子元器件,端子連接器,五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。

X射線測厚儀校正片

標準片廠牌:韓國Micropioner

標準片應用X-RAY鍍層測厚儀,不同品牌鍍層測厚儀標準片通用

用于校正鍍層測厚儀標準及添加測量應用程序

 

X射線測厚儀校正片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度范圍均可訂制,附帶標準證書

 

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品

根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。

 

以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、電子元器件,端子連接器,五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

 

MicropioneerXRF-2020鍍層測厚儀三款機型如下圖

檢測電子電鍍層厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

 

 

 

金標準片,銀標準片,鎳標準片,錫標準片,銅標準片,鋅標準片如下圖

 

 

鈀標準片,銠標準片,鉑標準片如下圖

 

 

XRF-2020鍍層測厚儀標準片通用各品牌X-RAY鍍層測厚儀

銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀,鉑,銠各種厚度

規(guī)格均可訂制,校準片均附帶證書。

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