X射線測厚儀校正片

標準片廠牌：韓國Micropioner

標準片應(yīng)用X-RAY鍍層測厚儀,不同品牌鍍層測厚儀標準片通用

用于校正鍍層測厚儀標準及添加測量應(yīng)用程序

X射線測厚儀校正片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度范圍均可訂制，附帶標準證書

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品

根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。

以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、電子元器件，端子連接器，五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

MicropioneerXRF-2020鍍層測厚儀三款機型如下圖

檢測電子電鍍層厚儀，測量鍍金,鍍銀，鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

金標準片，銀標準片，鎳標準片，錫標準片，銅標準片，鋅標準片如下圖

鈀標準片，銠標準片，鉑標準片如下圖

XRF-2020鍍層測厚儀標準片通用各品牌X-RAY鍍層測厚儀

銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀，鉑，銠各種厚度

規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書。