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韓國先鋒膜厚儀適用于各種薄膜材料的測量
更新時間:2023-03-21   點擊次數:994次
  韓國先鋒膜厚儀是一種用于測試薄膜厚度的儀器,可用于多種材料的測試,如金屬、聚合物、玻璃、陶瓷等。廣泛用于電子、光電子、半導體、新材料等領域的薄膜厚度測量。
  具體工作原理如下:
  1.發射激光束:先鋒膜厚儀發射激光束,這束激光經過透鏡聚焦后,形成一個極小的激光點。
  2.激光點掃描:激光點以一定的速度在測量目標表面上掃描,這個速度一般為100-500Hz。
  3.干涉現象:掃描過程中,激光束在目標表面上發生反射和折射,折射的激光經過透鏡聚焦后與反射激光相遇,形成一種干涉現象。
  4.接收反射光:接收器接收反射光,并將其信號傳遞給計算機。
  5.計算結果:根據接收到的信號,計算機可以計算出測量目標表面的高度和厚度。
  韓國先鋒膜厚儀性能特點:
  1.測量精度高,可達到納米級。
  2.操作簡單,讀取方便,可在數秒鐘內完成納米級薄膜厚度測量。
  3.具有快速測試速度,適用于大批量測試。
  4.適用于各種薄膜材料的測量。
  5.具有巨大的應用潛力,如在機械工程、材料科學、納米科技等領域都有著廣泛的應用。
  韓國先鋒膜厚儀操作流程:
  1.將待測樣品放置在先鋒膜厚儀測試臺上,逐一對每個樣品進行測量。
  2.使用儀器自帶的控制器或電腦,選定測試參數,如測試波長、測量區域等。
  3.啟動先鋒膜厚儀,儀器會自動發出激光光束,照射在樣品表面。
  4.儀器通過檢測激光反射信號的相位變化,計算出薄膜的厚度。
  5.讀取儀器顯示屏上的薄膜厚度數值,記錄并處理數據。
  6.重復以上步驟對其他樣品進行測量。
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