鍍鎳測(cè)厚儀儀器特點(diǎn)有以下這些：
功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測(cè)量方法。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。
鍍鎳測(cè)厚儀測(cè)試誤差出現(xiàn)的原因：
零件放置方向不正確：對(duì)于平直零件，旋轉(zhuǎn)角度不是問題，因?yàn)閄RF鍍層測(cè)厚儀信號(hào)不受影響。但是，對(duì)于彎曲零件，非常重要的是，將零件的軸與X射線管和探測(cè)器的軸向保持一致。這使零件對(duì)齊更容易且數(shù)據(jù)再現(xiàn)性更好，這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部，而不是側(cè)壁上。與前述聚焦的情況類似，錯(cuò)位測(cè)量也會(huì)改變X射線管-樣品-探測(cè)器間的距離。在不好的情況下，零件未對(duì)齊可能會(huì)使所有XRF鍍層測(cè)厚儀信號(hào)無法到達(dá)探測(cè)器。
測(cè)量結(jié)果超出校準(zhǔn)范圍：鍍層厚度或成分與強(qiáng)度之間的關(guān)系在小范圍內(nèi)是線性關(guān)系，但在較大范圍內(nèi)可能是曲線關(guān)系。因此，校準(zhǔn)曲線被優(yōu)化，在有限的厚度和成分范圍內(nèi)工作，而不是覆蓋整個(gè)分析范圍。該優(yōu)化范圍由回歸設(shè)置及創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線時(shí)使用的標(biāo)樣決定。用戶可與XRF鍍層測(cè)厚儀制造商合作，了解校準(zhǔn)曲線范圍，如果測(cè)量結(jié)果超出該范圍，則在用戶的軟件中設(shè)置警告。
