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X射線電鍍測厚儀鍍層樣品鍍層厚度檢測原理
更新時(shí)間:2020-11-11   點(diǎn)擊次數(shù):1937次
   X射線電鍍測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn),廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

X射線電鍍測厚儀


  樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
 
  X射線電鍍測厚儀的性能特點(diǎn):
  1、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。
  2、良好的射線屏蔽作用。
  3、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
  4、采用高度定位激光,可自動定位測試高度。
  5、定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊。
  6、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求。
  7、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求。
  8、高精度移動平臺可準(zhǔn)確定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm。
  9、鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)。
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