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X-RAY測厚儀標準片的作用巨大
更新時間:2021-03-18   點擊次數(shù):1237次
  X-RAY測厚儀標準片專業(yè)用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線,之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
  X-RAY測厚儀標準片對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
  影響涂層測厚儀測量值精度的因素:
  1、基體金屬磁性質(zhì):磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準
  2、基體金屬厚度:每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。
  3、邊緣效應:儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
  4、曲率:試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
 

X-RAY測厚儀標準片

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